T/CNIA 0064-2020 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
标准名称：多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
发布日期：2020-05-27
实施日期：2020-08-01
标准编号：T/CNIA 0064-2020
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
T/CNIA 0064-2020 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
标准编号：T/CNIA 0064-2020
规范名称：多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
本标准规定了多晶硅行业用无尘擦拭布中硼、磷、钠、镁、钾、钙、铬、铁、镍、铜、锌杂质含量的测定方法。
本标准适用于多晶硅行业用无尘擦拭布中硼、磷、钠、镁、钾、钙、铬、铁、镍、铜、锌杂质含量的测定，测定范围为0.10ug/g~10.00μg/g。
起草单位：亚洲硅业（青海）股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、苏州鸿博斯特超净股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、新特能源股份有限公司、内蒙古神舟硅业有限责任公司、国标（北京）检验认证有限公司
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