T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法
标准名称：GaN毫米波前端芯片测试方法
发布日期：2023-06-30
实施日期：2023-07-01
标准编号：T/CASAS 030-2023
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法
标准编号：T/CASAS 030-2023
规范名称：GaN毫米波前端芯片测试方法
该国家标准描述了 GaN 毫米波前端芯片(以下简称“GaN 前端芯片”)的测试条件、测试要求和测试方法。
该国家标准适用于 GaN 前端芯片的测试、质量评价。
起草单位：中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
起草人：周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏
批准发布部门：北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
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