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T/CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

T/CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

简介

T/CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

标准编号:T/CASAS 029-2023

规范名称:Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

该国家标准描述了 Sub-6GHz GaN 射频器件微波特性的详细测试方法,用户根据需求与实际情况参考使用。

该国家标准适用于共源组成方式的 GaN 射频器件的测试分析及质量评价。

起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、河北博威集成电路有限公司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人:默江辉、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、徐瑞鹏

批准发布部门:北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

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