JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
标准名称：X射线晶体定向仪 技术条件
发布日期：2004-06-17
实施日期：2004-11-01
标准编号：JB/T 5482-2004
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
标准编号：JB/T 5482-2004
规范名称：X射线晶体定向仪 技术条件
适用范围：
本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求，试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。
北京分析仪器研究所
起草单位：丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等
批准发布部门：国家发展和改革委员会行业分类无
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。