JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法
标准名称：光学晶体光学均匀性测量方法
发布日期：1999-08-06
实施日期：2000-01-01
标准编号：JB/T 9495.7-1999
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法
标准编号：JB/T 9495.7-1999
规范名称：光学晶体光学均匀性测量方法
适用范围：
本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为：△η=±1×10^(-6)。
批准发布部门：国家机械工业局行业分类无
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