SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
标准名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
发布日期：1999-08-26
实施日期：1999-12-01
标准编号：SJ/T 11212-1999
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
标准编号：SJ/T 11212-1999
规范名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
适用范围：
本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z 9154．1-1987的π型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
批准发布部门：信息产业部行业分类无
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