SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
标准名称：钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
发布日期：1999-08-26
实施日期：1999-12-01
标准编号：SJ/T 11207-1999
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
标准编号：SJ/T 11207-1999
规范名称：钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
适用范围：
本标准规定了频率为10 GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。
批准发布部门：信息产业部行业分类无
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