GB/Z 28820.2-2012 聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序
标准名称：聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序
发布日期：2012-11-05
实施日期：2013-02-01
标准编号：GB/Z 28820.2-2012
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/Z 28820.2-2012 聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序
标准编号：GB/Z 28820.2-2012
规范名称：聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序
本部分给出了 3 种根据高剂量率试验数据外推得到一般使用条件下低剂量率数据的方法。这些方法均假设在试验条件下已实现均相氧化。本部分适用于各种弹性体、热塑性材料和部分热固性材料。各种方法本身也在不断改进与完善之中。为了能够对低剂量率条件进行预测，需要相当多的试验数据。指数外推法主要用于等温数据，而叠加法可利用各种不同温度条件下得到的数据。
全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会
起草单位：机械工业北京电工技术经济研究所、深圳市旭生三益科技有限公司、上海电缆研究所、中国电器工业协会标准化工作委员会等
批准发布部门：中国电器工业协会
GB/Z 28820.2-2012 聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序(图)
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