SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
标准编号：SJ/T 11706-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准编号：SJ/T 11706-2018
规范名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
适用范围：
本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类信息传输、软件和信息技术服务业
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