SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
标准名称：砷化镓晶片热稳定性的试验方法
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准编号：SJ/T 11497-2015
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
标准编号：SJ/T 11497-2015
规范名称：砷化镓晶片热稳定性的试验方法
适用范围：
本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。本标准适用于电阻率在10∧4Ω·cm～10∧9Ω·cm范围半绝缘砷化镓单晶材料的热稳定性试验。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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