SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
标准名称：半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准编号：SJ/T 11487-2015
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
标准编号：SJ/T 11487-2015
规范名称：半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
适用范围：
本标准规定了半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓、磷化铟、碳化硅等高阻半导体材料电阻率的测量，电阻率的测量范围为10^5 Ω·cm～10^12Ω·cm。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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