SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
标准名称：发光二极管外延片测试方法
发布日期：2014-10-14
实施日期：2015-04-01
标准编号：SJ/T 11471-2014
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
标准编号：SJ/T 11471-2014
规范名称：发光二极管外延片测试方法
适用范围：
本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。
工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位：上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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