JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法
标准名称：发光二极管光学性能测试方法
发布日期：2008-06-04
实施日期：2008-11-01
标准编号：JB/T 10875-2008
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法
标准编号：JB/T 10875-2008
规范名称：发光二极管光学性能测试方法
适用范围：
本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED器件)光学性能测试方法。本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试，组件和功率器件的光学性能测试参照执行。本标准是一种推荐性的测试方法，只要达到同样的测量目的，也可采用其他的测试方法。
全国光学和光子学标准化技术委员会
起草单位：上海理工大学、上海半导体照明工程技术研究中心等
批准发布部门：国家发展和改革委员会行业分类无
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